建交33年以來，中國與新加坡兩國「龍獅共舞」，在多個合作領域取得長足進步，與新加坡科技研究局的合作就是其中之一。央視在新加坡專訪科技研究局下屬半導體實驗室，探訪國際首創技術的「高速三維輪廓形貌測量儀」。新加坡科研團隊強調，中國的完整產業鏈和廣闊市場，非常有助讓新技術廣泛投入半導體生產當中。

檢測芯片微米級缺陷

「高速三維輪廓形貌測量儀」是一部特殊的「顯微鏡」，能夠檢測半導體芯片微米級的缺陷，將芯片檢測耗時由30個小時縮減至僅需30毫秒。新加坡製造技術研究所高級研究員李顥解釋，不同芯片樣本之間或存在微米級別的高度差，但在實際生產中，這些差異牽一髮而動全身，可能影響數以萬計芯片的質素，「如果有一項完善的檢測技術，就可以避免這種損失。」

新加坡先進再製造與科技中心研發副總監程方表示，中國擁有完整的產業鏈和廣闊市場，為新加坡科研技術推廣提供空間。研發上述測量儀的企業創辦人吳友仁也稱，「我們將中國作為走向世界的第一站，以及推廣新技術的起點。中國有巨大的市場，如果我們能在中國市場競爭，那麼我們在哪裏都能生存。」

◆綜合報道